
BX53M
Металографските микроскопи от серия BX53М поддържат на широк спектър от аналитични приложения, от рутинна инспекция до сложни аналитични изследвания в материалознанието и промишлеността. Микроскопът е оборудван с висок клас план-флуоритни обективи MPLFLN предлагащи наблюдение в светло и тъмно поле, DIC, поларизация и флуоресценция.
С подобрена интеграция със софтуера PRECiV, BX53M осигурява безпроблемен работен процес от наблюдение до създаване на отчети за потребители на стандартна микроскопия.
Моделът BX53P е специализиран поларизационен микроскоп с центрируем револвер, специален поларизационен кондензор, ротационна маса, коноскопичана/ортоскопична приставка която включва фокусируема Bertrand -леша и апертура. При ортоскопичен режим се определя кристалност, размер, форма и дистрибуция на частици, а при коноскопичното наблюдение се определя оптичен осев ъгъл, кристална ориентация и оптична симетрия, Микроскопът поддържа и λ-компенсатори.
Приложения: металография, геология, термообработка, изследване на сплави.
Металографските микроскопи от серия BX53М поддържат на широк спектър от аналитични приложения, от рутинна инспекция до сложни аналитични изследвания в материалознанието и промишлеността. Микроскопът е оборудван с висок клас план-флуоритни обективи MPLFLN предлагащи наблюдение в светло и тъмно поле, DIC, поларизация и флуоресценция.
С подобрена интеграция със софтуера PRECiV, BX53M осигурява безпроблемен работен процес от наблюдение до създаване на отчети за потребители на стандартна микроскопия.
Моделът BX53P е специализиран поларизационен микроскоп с центрируем револвер, специален поларизационен кондензор, ротационна маса, коноскопичана/ортоскопична приставка която включва фокусируема Bertrand -леша и апертура. При ортоскопичен режим се определя кристалност, размер, форма и дистрибуция на частици, а при коноскопичното наблюдение се определя оптичен осев ъгъл, кристална ориентация и оптична симетрия, Микроскопът поддържа и λ-компенсатори.
Приложения: металография, геология, термообработка, изследване на сплави.
Индустриални приложения
- Инспекция на електроника (компоненти на платки, споени съединения)
- Металография (зърнеста структура, заваръчни зони)
- Инспекция на покрития и анализ на повреди
Добавена стойност
- Модулен за множество техники на наблюдение
- Силна оптика за отразяващи повърхности
- Стандартно в QA/QCлаборатории
Проблем и решение
Проблем: Традиционните микроскопи може да не са гъвкави както за режими на инспекция чрез отразяване, така и за инспекция чрез преминаваща светлина.
Решение: Модулният дизайн на BX53M позволява на потребителите да адаптират оптиката към различни проби, с отлична оптична яснота.








